溫升試驗(yàn)是電器產(chǎn)品型式試驗(yàn)中常規(guī)的試驗(yàn)項(xiàng)目，溫升試驗(yàn)的目的是測(cè)試電器產(chǎn)品及部件的溫度變化情況，以確定電器產(chǎn)品或部件是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。隨著電器產(chǎn)器日新月異的發(fā)展，溫升試驗(yàn)對(duì)電器設(shè)備及部件產(chǎn)品安全性變得越來越重要。溫升測(cè)試是型式試驗(yàn)項(xiàng)目，也是新產(chǎn)品定型的主要試驗(yàn)項(xiàng)目之一。對(duì)于派生產(chǎn)品或正常產(chǎn)品，由于產(chǎn)品工藝的重大改變，主要部件原材料的代用，出廠產(chǎn)品中實(shí)測(cè)損耗值超出標(biāo)準(zhǔn)，懷疑能否達(dá)到額定功率時(shí)，均要進(jìn)行溫升試驗(yàn)。溫升測(cè)試是針對(duì)電源線接頭、插座、拖線板、轉(zhuǎn)換插、接線端子、連接器、開關(guān)等電連接設(shè)備安全性能檢測(cè)的。

溫升測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

溫升試驗(yàn)在電子、電器產(chǎn)品的安全標(biāo)準(zhǔn)如GB8898（IEC60065），GB4943（IEC60950）、GB4706（IEC60335）、GB7000（IEC60598）中都有明確的要求，其試驗(yàn)方法主要有熱電偶法和電阻法。

參考：GB/T 2423.22，IEC60068-2-14，EN 60068-2-14。

熱電偶法是將熱電偶粘貼在設(shè)備部件表面，通過溫度測(cè)量?jī)x器設(shè)備部件表面的溫度來計(jì)算出溫升。用熱電偶法測(cè)量溫升的影響因素時(shí)，應(yīng)當(dāng)提前考慮：熱電偶、溫度測(cè)量?jī)x、膠黏劑、測(cè)試的環(huán)境條件、試驗(yàn)工程師的操作水平等因素的影響，并將這些影響因素控制在最小。

溫升測(cè)試短語(yǔ)

插頭溫升測(cè)試儀Plug temperature tester電機(jī)溫升測(cè)試法[電]Kapp method關(guān)鍵組件溫升測(cè)試Key Part Thermal Test面板溫升測(cè)試 air steam temperature test；boot's grid temperature test正常以及異常溫升測(cè)試 Normal&Abnormal Temperature Test關(guān)鍵元器件的溫升測(cè)試Key component temperature rise test溫升與測(cè)試 Temperature rising test溫升測(cè)試的目的

評(píng)判產(chǎn)品在溫度變化條件下的存貯或工作適應(yīng)性。鑒定性試驗(yàn)?zāi)康氖菣z查產(chǎn)品是否達(dá)到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求；改進(jìn)試驗(yàn)主要用做評(píng)定產(chǎn)品在溫度變化條件下的耐久性和可靠性適應(yīng)能力

溫升測(cè)試條件：

電壓：額定電壓的上限和下限或額定電壓范圍的上限和下限頻率：額定頻率的上限和下限或額定頻率范圍的上限和下限

負(fù)載：正常工作時(shí)的大負(fù)載或負(fù)載組合中的嚴(yán)重情況（輸入電流大的情況）。

環(huán)境：如做UL認(rèn)證，可在常溫下進(jìn)行測(cè)試。如做TUV認(rèn)證，須在高的工作溫度下進(jìn)行測(cè)試。

所有關(guān)鍵性元器件。如在相同或類似的位置，可取其中的一個(gè)。

溫升測(cè)試-疲勞試驗(yàn)的分類：

金屬機(jī)件或構(gòu)件在變動(dòng)應(yīng)力和應(yīng)變長(zhǎng)期作用下，由于累積損傷而引起的斷裂現(xiàn)象稱為疲勞。

疲勞可以按不同方法進(jìn)行分類：按照應(yīng)力狀態(tài)不同可分為彎曲疲勞、扭轉(zhuǎn)疲勞、拉壓疲勞、復(fù)合疲勞；按照環(huán)境和接觸情況不同，可分為大氣疲勞、腐蝕疲勞、高溫疲勞、熱疲勞、接觸疲勞等，按照斷裂壽命和應(yīng)力高低不同，可分為高周和低周疲勞，這是最基本的分類方法。高周疲勞的斷裂壽命較長(zhǎng)，斷裂應(yīng)力水平較低，也稱低應(yīng)力疲勞，一般常見的疲勞多屬于這類疲勞。低周疲勞的斷裂壽命較短，斷裂應(yīng)力水平較高，往往有塑性應(yīng)變發(fā)生，也稱高應(yīng)力疲勞或應(yīng)變疲勞。

溫升測(cè)試的方法：按照測(cè)量溫度儀表的不同，可以分為非接觸式與接觸式兩大類。

非接觸式測(cè)量法

能測(cè)得被測(cè)物體外部表現(xiàn)出來的溫度，需要通過對(duì)被測(cè)問題表面發(fā)射率修正后才能得到真實(shí)溫度，而且測(cè)量方法受到被測(cè)物體與儀表之間的距離以及輻射通道上的水汽、煙霧、塵埃等其他介質(zhì)的影響，因此測(cè)量精度較低。日常我們經(jīng)常用的方法有光譜測(cè)溫技術(shù)、全息干涉測(cè)溫技術(shù)、基于CCD的三基色測(cè)溫技術(shù)。

接觸式測(cè)量法

接觸式測(cè)溫儀溫度探頭一般有熱電偶和熱電阻兩種：熱電偶的工作原理是基于塞貝克（seeback效應(yīng)），兩種不同成分的導(dǎo)體兩端連接成回路，如兩連接端溫度不同，則在回路內(nèi)產(chǎn)生熱電流的物理現(xiàn)象，利用此現(xiàn)象來測(cè)量溫度。

溫升測(cè)試過程：

1、確定受測(cè)的元器件。

2、將熱電偶粘到受測(cè)的元器件上。注意熱電偶的位置，應(yīng)是可能的發(fā)熱嚴(yán)重的地方。

3、開機(jī)，將輸入電壓調(diào)到額定電壓的上限或額定電壓范圍的上限，輸入頻率調(diào)到額定頻率的下限或額定頻率范圍的下限，輸出負(fù)載調(diào)到要求的大小。

4、讓受試設(shè)備持續(xù)工作，直至受試設(shè)備達(dá)到熱平衡。

5、記錄熱電偶的讀數(shù)。

注：如果熱電偶的讀數(shù)在30分鐘內(nèi)的變化小于1℃，則可認(rèn)為熱電偶達(dá)到了熱平衡。

溫升測(cè)試判定：

元器件測(cè)得的溫度應(yīng)在其額定的高工作溫度內(nèi)。

溫度限值：下面是一些材料的溫度限值

絕緣材料的溫升要求：（絕緣材料包括：變壓