根据可靠性统计试验所采用的方法和目的，可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验，通常用来提供可靠性数据?？煽啃匝橹な匝槭怯美囱橹ど璞傅目煽啃蕴卣髦凳欠穹掀涔娑ǖ目煽啃砸蟮氖匝?，一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。

1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验；

2. 以试验项目划分，可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验；

3. 若按试验目的来划分，则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验；

4. 若按试验性质来划分，也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。

5. 但通常惯用的分类法，是把它归纳为五大类:

A.环境试验

B. 寿命试验

C. 筛选试验

D. 现场使用试验

E. 鉴定试验

可靠性是与电子工业的发展密切相关的，其重要性可从电子产品发展的三个特点来加以说明。

首先，电子产品的复杂程度在不断增加。人们最早使用的矿石收音机是非常简单的，随之先后出现了各种类型的收音机、录音机、录放相机、通讯机、雷达、制导系统、电子计算机以及宇航控制设备，复杂程度不断地增长。电子产品复杂程度的显著标志是所需元器件数量的多少。而电子产品的可靠性决定于所用元器件的可靠性，因为电子产品中的任何一个元器件、任何一个焊点发生故障都将导致系统发生故障。一般说来，电子产品所用的元器件数量越多，其可靠性问题就越严重，为保证产品或系统能可靠地工作，对元器件可靠性的要求就非常高、非常苛刻。

其次，电子产品的使用环境日益严酷。从实验室到野外，从热带到寒带，从陆地到深海，从高空到宇宙空间，经受着不同的环境条件，除温度、湿度影响外，海水、盐雾、冲击、振动、宇宙粒子、各种辐射等对电子元器件的影响，导致产品失效的可能性增大。

第三，电子产品的装置密度不断增加。从第一代电子管产品进入第二代晶体管，现已从小、中规模集成电路进入到大规模和超大规模集成电路，电子产品正朝小型化、微型化方向发展，其结果导致装置密度的不断增加，从而使内部温升增高